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薄膜测厚仪

发布时间:2017-07-11

薄膜测厚仪

 

薄膜测厚仪采用机械接触式测量方式,严格符合标准要求,有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。

 
薄膜测厚仪技术特征:
严格按照标准设计的接触面积和测量压力,同时支持各种非标定制
测试过程中测量头自动升降,有效避免了人为因素造成的系统误差
支持自动和手动两种测量模式,方便用户自由选择
实时显示测量结果的最大值、最小值、平均值以及标准偏差等分析数据,方便用户进行判断
配置标准量块用于系统标定,保证测试的精度和数据一致性
系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能,方便快捷地获取测试结果
系统由微电脑控制,搭配液晶显示器、菜单式界面和PVC操作面板,方便用户进行试验操作和数据查看
标准的RS232接口,便于系统与电脑的外部连接和数据传输
支持LystemTM实验室数据共享系统,统一管理试验结果和试验报告
 
执行标准:
ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817
 
薄膜测厚仪技术指标:
负荷量程:0 ~ 2 mm(常规)
     0 ~ 6 mm;12 mm (可选)
分辨率:0.1 μm
测量速度:10 次/min (可调)
测量压力:17.5±1 KPa(薄膜);50±1 KPa(纸张)
接触面积:50 mm2(薄膜);200 mm2(纸张)
     注:薄膜、纸张任选一种;非标可定制
电源:AC  220V  50Hz
外形尺寸:461mm(L)×334mm(W)×357mm(H)
净重:32kg
 
薄膜测厚仪仪器配置:
标准配置:主机、标准量块一件
选购件:专业软件、通信电缆、测量头、配重砝码、微型打印机

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